专利名称：具测试架构的液晶显示装置及相关测试方法专利类型：发明专利
发明人：黄韦凯,李斳伦,林家强申请号：CN200810132560.7申请日：20080715公开号：CN101308306A公开日：20081119
摘要：本发明公开了一种具测试架构的液晶显示装置，主要包含多条数据线、多条栅极线、多条共享电极线及多列像素单元。多条奇数共享电极线是用以馈送第一共享电压，多条偶数共享电极线是用以馈送第二共享电压。奇数列像素单元及偶数列像素单元分别耦合于对应奇数共享电极线及对应偶数共享电极线。另揭露一种检测液晶显示装置的缺陷的测试方法，包含：于第一时段致能所有栅极线及馈入第一测试电压至对应数据线；于第二时段除能偶数栅极线及馈入第二测试电压至对应数据线；及于第三时段将第二共享电压从第一共享测试电压切换为第二共享测试电压。
申请人：友达光电股份有限公司
地址：台湾省新竹
国籍：CN
代理机构：北京律诚同业知识产权代理有限公司
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