专利名称：一种触控芯片电性测试装置专利类型：实用新型专利发明人：李伟,余荣
申请号：CN202021162443.8申请日：20200622公开号：CN213210353U公开日：20210514
摘要：本实用新型公开了一种触控芯片电性测试装置，包括底座，所述底座的顶部固定连接有工作台，所述工作台的顶部固定连接有滑板，所述滑板的顶部滑动连接有等距排布的多个放置台，多个所述放置台的顶部放置有芯片，所述工作台上设有转动槽，所述转动槽的内壁一侧固定连接有驱动电机，所述驱动电机的输出轴固定连接有第二链轮，所述转动槽的内壁一侧转动连接有相对称的转动轴，两个所述转动轴的一端均固定连接有第一链轮，两个所述第一链轮和第二链轮外侧套设有同一个链条，本实用新型中，通过测试针做上下往复运动，移动板和推动杆自行输送芯片，全过程无需人工操作，既节省劳动力，又提高了工作效率，简单实用。
申请人：上海荣惠笛信息技术有限公司
地址：201207 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区芳春路400号1幢3层
国籍：CN
代理机构：上海宣宜专利代理事务所(普通合伙)
代理人：邢黎华
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